400-6727-800
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詳細介紹
半導體高低溫測試實驗箱可模擬高溫恒溫、低溫恒溫、高低溫交變等不同環境氣候的測試條件，搭配容易操作和學習的編程系統，提供測試性能條件，廣泛適用于電工、電子、電器、LED、汽車配件、手機、儀器儀表及其它產品零部件在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，確定上述產品對高低溫環境的耐溫適應性檢測。
半導體高低溫測試實驗箱技術參數：
內箱尺寸：400*500*400；500*500*400；500*600*500；600*750*500；600*850*800；1000*1000*800；1000*1000*1000
溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D:-60℃~150℃；F:-70℃~150℃；
溫度波動度：≤±0.5℃
溫度均勻度：≤2℃
升溫速率：約3℃/min（非線性 空載）
降溫時間：約1℃/min（非線性 空載）
循環系統：耐溫低噪音空調型電機，多葉式離心風輪
制冷劑：R404A、R23（環保型）
控制器：微電腦溫濕度集成控制器（溫度直接顯示百分數）
外箱材質：碳素鋼板，表面磷化靜電噴塑處理
內箱材質：SUS304不銹鋼鏡面光板
保溫材質：超細玻璃纖維棉
門框隔熱：雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
加熱系統：鎳鉻合金電加熱式加熱器
安保裝置：電源超載、漏電、超溫、缺水保護（帶聲訊提示）、快速保險絲、壓縮機過壓保護
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