快速沖擊冷熱試驗箱/產冷熱沖擊箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業、航天、防工業、BGA、兵工業、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環境產出的化學變化或物理傷害，可確認各種產品的品質,從的IC到重機械的組件，不需要它,目此設備是工業產業共認的理想測試工具。

快速沖擊冷熱試驗箱/產冷熱沖擊箱 滿足的標準有以下:

GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 2部分試驗方法 試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;GB2424.1 電工電子產品環境試驗 高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;GJB150.3A-2009 裝備實驗室環境試驗方法3部分高溫試驗;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 4部分：低溫試驗;GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環境試驗方法 5部分：溫度沖擊試驗;GJB367.2-1987 通信設備通用技術條件 環境試驗方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗;IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊（溫度循環）測試程序的電連接器和插座的環境影響評估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗般規則 汽車行業標標準等等包括其它產品行業標準。

溫度沖擊方法:垂直兩箱法 / 靜止三箱法。

常規型號和技術參數:

沖擊箱常規型號:3AP-CJ-50

內箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440mm

沖擊箱常規型號二:3AP-CJ-80

內箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1700mm*1800mm*1440mm

沖擊箱常規型號三:3AP-CJ-100

內箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1800mm*1440mm

沖擊箱常規型號四:3AP-CJ-150

內箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1900mm*1540mm

沖擊箱常規型號五:3AP-CJ-250

內箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm

外箱尺寸W×H×D:1900mm*2000mm*1640mm

備注：更多尺寸及容積可根據led產品的大小、長短做設計，如需非標定制業務部門咨詢。